檢索結果：共3筆資料 檢索策略： "Kung-Jeng Wang".eadvisor (精準) and ckeyword.raw="自動光學檢測"
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高速生產的微型電子元件需要快速且準確的檢測方法，自動光學檢測（Automated Optical Inspection, AOI）常應用於此。然而，AOI易於產生檢測篩選不足且/或篩選過度的問題。本…
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電子產品微小化及對於良率要求極為嚴苛，因此在自動光學檢測（Automated Optical Inspection, AOI）容易因敏感度提高而出現過篩現象，常造成AOI瑕疵誤判及人力複檢成本提高。…
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瑕疵數據收集對於新產品而言極其稀少，一直是重要的議題。然而，瑕疵數據集的品質對深度學習有顯著的影響。本研究致力於應用CNN架構之瑕疵檢測模型，以解決瑕疵資料稀缺性的問題。本研究考量產品生產過程中瑕疵…